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用途:用于獲取材料表面的納米級(jí)三維形貌結(jié)構(gòu)、納米力學(xué)、納米電學(xué)性能等。
型號(hào):Dimension Icon、Dimension Edg、
Dimension Edge PSS等
基本參數(shù):
●垂直方向分辨率:<0.1 nm
●水平方向分辨率:<1nm
●Z方向掃描范圍:<10 um
●XY方向掃描范圍:90um X 90um(典型值)
●樣品臺(tái)尺寸:210 mm
功能模塊:
●Peak force tapping:峰值力輕敲模式
●Peak force Tuna:表征納米電學(xué)
●Peak force ONM:表征納米力學(xué)
● Peak force SECM:表征納米電化學(xué)
●Peak force KPFM:表征納米表面電勢(shì)
技術(shù)優(yōu)勢(shì):
●最先進(jìn)的XYZ全探針掃描方式和全自動(dòng)大樣品臺(tái)
●獨(dú)有的Peak froce Tapping專(zhuān)利技術(shù)和智能掃描模式(ScanAsyst)
●最完整的力學(xué)、電學(xué)、電化學(xué)測(cè)試功能和最靈活的拓展性
用途:用于獲取材料表面的納米級(jí)三維形貌結(jié)構(gòu)、納米力學(xué)、納米電學(xué)性能等。
型號(hào):Dimension Icon、Dimension Edg、
Dimension Edge PSS等
基本參數(shù):
●垂直方向分辨率:<0.1 nm
●水平方向分辨率:<1nm
●Z方向掃描范圍:<10 um
●XY方向掃描范圍:90um X 90um(典型值)
●樣品臺(tái)尺寸:210 mm
功能模塊:
●Peak force tapping:峰值力輕敲模式
●Peak force Tuna:表征納米電學(xué)
●Peak force ONM:表征納米力學(xué)
● Peak force SECM:表征納米電化學(xué)
●Peak force KPFM:表征納米表面電勢(shì)
技術(shù)優(yōu)勢(shì):
●最先進(jìn)的XYZ全探針掃描方式和全自動(dòng)大樣品臺(tái)
●獨(dú)有的Peak froce Tapping專(zhuān)利技術(shù)和智能掃描模式(ScanAsyst)
●最完整的力學(xué)、電學(xué)、電化學(xué)測(cè)試功能和最靈活的拓展性