– 提供固定靜態(tài)偏置點進行窄脈沖動態(tài)IV測量，滿足準(zhǔn)等溫

  測試條件。

– 實現(xiàn)器件寄生效應(yīng)的量化測量與數(shù)據(jù)運算。

– 脈寬*小低至200ns。

– 具有內(nèi)部和外部同步能力。

– 脈沖時序設(shè)置和時域波形記錄。

– 儀器設(shè)備可與socket&半自動探針臺互聯(lián)，進行封裝以及晶

圓級芯片測試。